JaSST'13東海SIG(6)

JaSST'13東海SIG(5)からの続きです。

今回は、「JaSST'12東海SIGでの気付き」の【2.ふりかえり内容】の前半(開発側)です。

探索的テストを探索する from Masao Tsuzuki

(1)市場不具合関連ドキュメントの不具合発生原因

　時々、市場不具合報告書を目にする機会があり、何件か目を通すと不具合発生原因が偏在する場合があります。組み込み系では、ハードウェア(ASICやFPGA)のタイミングや特定条件で不具合が発生しますので、類似機種や派生機種の開発で過去不具合をベースにスクリプトテストとしてテスト実施しますが、探索的テストも状況に合わせて実施することにしています。

(2)反省会(ふりかえり)資料 or ホワイトボード資料

　開発完了後に反省会を行うことがありますが、「Problem」の箇所をピックアップして、「自分はどのように工夫してテスト実施すればよいのか？」と考える材料にしています。

(3)インシデントレポートの設計見直し内容

　設計見直ししたとき、「設計見直し対象でない機能やモジュールに影響は無いか？」と他機能や他モジュールのテストと絡みそうなところを念のためテスト実施しています。

(4)開発者と愚痴を含んだ過去の立ち話

　立ち話は本音を出していることがあるので、本音から「何の悩みがあるのか？」と推測すると、不具合検出のヒントになることが多いです。

(5)レビューで極端に指摘が多い or 少ない機能やモジュール

　指摘が多いときは、担当者が関わった機能やモジュールを把握しておくと、不具合の見逃しが低減できることがあります。逆に指摘が少ないときは、残存不具合の可能性も考慮するとよいです。
　
次回は、「JaSST'12東海SIGでの気付き」の【2.ふりかえり内容】の後半(テスト側)です。